晶粒度檢測

　　晶粒度檢測晶粒度（grain size）—用于描述晶粒大小的參數(shù)，常用的表示方法：單位體積的晶粒數(shù)目（ZV）；或單位面積內(nèi)的晶粒數(shù)目（ZS）或晶粒的平均線長度（或直徑）表示。晶粒度可用晶粒的平均面積或平均直徑表示。

　　工業(yè)生產(chǎn)上采用晶粒度等級來表示晶粒大小。標(biāo)準(zhǔn)晶粒度共分8級，1-4級為粗晶粒，5-8級為細(xì)晶粒。一般晶粒度越大，也就是越細(xì)越好。

標(biāo)簽

晶粒度檢測 grain size 用于

本文網(wǎng)址：http://www.koushubai.com/baike/467.html

上一篇：細(xì)說金相分析

下一篇：常見成分分析

關(guān)于我們

上海光學(xué)儀器廠是國內(nèi)較早成立大型綜合類光學(xué)儀器的生產(chǎn)企業(yè)，以顯微鏡、光學(xué)儀器、測量工具顯微鏡、生物顯微鏡、測量投影儀、影像測量儀、工具顯微鏡、分光光度計、折射儀等見長，在國內(nèi)久負(fù)盛名。上海顯微鏡企業(yè)全面改制后，開發(fā)了與電腦……

聯(lián)系我們