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物質(zhì)的檢測(cè)方法是什么

  物質(zhì)的檢測(cè)方法是什么
  均質(zhì)晶體是檢測(cè)的晶體特光學(xué)各向同性,而對(duì)于任何方向的光的檢測(cè)則是會(huì)發(fā)生折率性。
  因此在正交偏光鏡下進(jìn)行檢測(cè)的均質(zhì)晶體是檢測(cè)的晶體特光學(xué)各向同性,則不會(huì)形成干涉現(xiàn)象。
  而對(duì)于一軸晶體物質(zhì)上所出現(xiàn)的干涉現(xiàn)象,則是由于晶體物質(zhì)中的切片方向不同可以分為垂直光軸切片與
  斜交光軸切片和平行光軸切片三種。
  因此對(duì)于晶體物質(zhì)的垂直光軸的切片來說,它的晶體物質(zhì)的光體率的光軸則是平行于顯微鏡的鏡筒中心軸。
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